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电致失效力学

杨卫

杨卫. 电致失效力学[J]. 力学进展, 1996, 26(3): 338-352. doi: 10.6052/1000-0992-1996-3-J1996-028
引用本文: 杨卫. 电致失效力学[J]. 力学进展, 1996, 26(3): 338-352. doi: 10.6052/1000-0992-1996-3-J1996-028
MECHTRONIC FAILURE ANALYSIS[J]. Advances in Mechanics, 1996, 26(3): 338-352. doi: 10.6052/1000-0992-1996-3-J1996-028
Citation: MECHTRONIC FAILURE ANALYSIS[J]. Advances in Mechanics, 1996, 26(3): 338-352. doi: 10.6052/1000-0992-1996-3-J1996-028

电致失效力学

doi: 10.6052/1000-0992-1996-3-J1996-028

MECHTRONIC FAILURE ANALYSIS

  • 摘要: 电致失效力学研究单调或交变电场载荷下由应力引起的失效行为,它包含了电致断裂、电致疲劳、电致迁移与电致损伤等新研究课题.本文概述了电致失效力学的领域与课题,并深入讨论了电致应变诱导断裂疲劳的机理及电迁移损伤的力电耦合过程.研究结果表明,电致失效力学可提供铁电陶瓷致动器和集成电路的若干关键设计参数.对铁电陶瓷多层共烧致动器,该分析提供其层厚、外加电场强度和交变电场循环周数.对集成电路内导线,该分析提供其允许电流密度和临界线长.

     

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出版历程
  • 刊出日期:  1996-08-25

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