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摘要: 引言用云纹(Moire)法测量位移是极为引人注目的。云纹法通过观察等位移线的等值线图的分布场,确定变形体的位移场。严格地讲云纹属于几何效应,对弹性体,非弹性体,各向同性体及各向异性体的位移同样地反映良好。已经研究成功测定结构及结构部件面内及离面位移的多种云纹技术,但是几乎所有以前的研究工作使用的都是40线/毫米即1000线/英寸的较粗的光栅,或者更粗一些。这只能测定较大的位移,例如高延性材料的面内弹性位移及结构材料的非弹性位移。
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